[发明专利]用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法和X射线系统有效
申请号: | 201480017074.4 | 申请日: | 2014-02-20 |
公开(公告)号: | CN105074774B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | J·E·弗雷登贝里;M·V·伦德奎斯特;E·勒斯尔;K·埃哈德;T·克勒;B·塞德斯特伦;H-I·马克 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G06T5/50 | 分类号: | G06T5/50;A61B6/00 |
代理公司: | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 李光颖;王英<国际申请>=PCT/IB2 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及X射线成像技术以及图像后处理。具体而言,本发明涉及一种用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法以及X射线系统。计算机辅助探测算法视觉上确定X射线图像信息中的组织结构,并且随后将经确定的组织结构的形状与已知组织结构的库匹配,以表征经确定的组织结构的类型。当还采用谱信息(尤其是采集的X射线图像的能量信息)时,组织结构的确定并且因此组织结构的类型的表征可以被增强。相应地,提出了一种用于对结构和X射线图像进行计算机辅助探测的方法(70、80、90),包括以下步骤:获得(72)对象的谱X射线图像信息,其中,所述谱X射线图像信息构成至少一幅X射线图像,通过采用计算机辅助探测算法来探测(74)所述X射线图像中的感兴趣组织结构,其中,探测所述X射线图像中的感兴趣组织结构包括使所述计算机辅助探测算法适于针对组织结构形状来对所述X射线图像进行评估,并且将所述组织结构形状与多个预定的组织结构形状进行比较,并且其中,所述计算机辅助探测算法适于评估所述X射线图像的谱信息以探测所述感兴趣组织结构。 | ||
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【主权项】:
1.一种用于对X射线图像中的结构进行计算机辅助探测的方法(70、80、90),包括以下步骤:/n获得(72)对象的谱X射线图像信息;/n其中,所述谱X射线图像信息构成至少一幅X射线图像;并且/n通过采用计算机辅助探测算法来探测(74)所述X射线图像中的感兴趣组织结构;/n其中,探测所述X射线图像中的感兴趣组织结构包括使所述计算机辅助探测算法适于针对组织结构形状来对所述X射线图像进行评估,并且将所述组织结构形状与多个预定的组织结构形状进行比较;并且/n其中,所述计算机辅助探测算法适于评估所述X射线图像的谱信息以探测所述感兴趣组织结构,其特征在于/n获得(82)对应于至少两个不同的X射线能量的至少两幅X射线图像;/n根据所述至少两幅X射线图像来确定(84)至少一幅另外的X射线图像;/n其中,所述至少一幅另外的X射线图像是具有定义的能量相关加权的X射线图像;并且/n评估(86)所述至少一幅另外的X射线图像以探测所述组织结构形状,/n其中,根据所述至少两幅X射线图像来确定至少一幅另外的X射线图像采用以下公式:/n /n其中,I合成是所确定的至少一幅另外的X射线图像,E是能量,w(E)是定义的能量相关加权,I0(E)是X射线谱,μa(E)和μg(E)是基本物质的物质分离(ta,tg)的衰减函数。/n
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