[发明专利]用于分析液滴中所含样本的光学测量仪器和方法

摘要

一种光学测量仪器(1)被配置用于分析包括至少一个液体处理吸头(4)的液体处理系统(3)所提供的液滴(2)中所含样本。该光学测量仪器(1)包括用于照射液滴(2)的光源(8)；用于测量样本光(11)的检测器(10)；具有用于透射照射光(9)的第一光学元件(18)的光学系统(43)，以及用于接受并处理测量信号(12)的处理器(13)。液滴(2)在所述液滴(2)被光源(8)与第一光学元件(18)定义的第一光学轴(14)穿透的位置处悬垂在液体处理吸头(4)的液体处理孔(6)处。液滴(2)仅被液体处理系统(3)的液体处理吸头(4)以及液体处理吸头(4)内的液体样本(30)物理接触。光学测量仪器(1)包括用于对液滴(2)的大小和/或位置相对于光学系统(43)的第一光学元件(18)进行相互适配的手段。也揭示了一种分析液体处理系统(3)所提供的且使用光学测量仪器(1)来检查的液滴(2)中所含样本的光学测量方法。

主权项

1.一种被配置用于分析液体处理系统(3)所提供的液滴(2)中所含样本的光学测量仪器(1)，所述光学测量仪器(1)包括：a)具有至少一个液体处理吸头(4)的液体处理系统(3)，所述至少一个液体处理吸头(4)具有液体处理轴(5)以及在所述液体处理吸头(4)的末端(7)处具有液体处理孔(6)，所述液体处理轴(5)在所述液体处理吸头(4)内延伸并穿透所述液体处理孔(6)，所述液体处理系统(3)进一步包括由所述液体处理系统(3)的中央处理器(44)控制的泵(39)，所述泵(39)经耐压管线(40)在操作上连接到所述液体处理吸头(4)；b)被配置用于提供用于照射液体样本(30)的液滴(2)的照射光(9)的光源(8)；c)被配置用于测量来自所述液滴(2)的样本光(11)以及用于提供表示测得的样本光(11)的测量信号(12)的检测器(10)；d)具有用于透射所述照射光(9)的第一光学元件(18)的光学系统(43)；以及e)连接到所述检测器(10)并被配置成接受并处理所述检测器(10)提供的所述测量信号(12)的处理器(13)，其中所述光源(8)和所述液滴(2)定义了所述光学系统(43)的所述第一光学元件(18)的第一光学轴(14)，所述第一光学轴(14)基本垂直于所述液体处理轴(5)延伸，所述液滴(2)由所述液体处理系统(3)提供并在所述液滴(2)被所述第一光学轴(14)穿透的位置处悬垂在所述液体处理吸头(4)的所述液体处理孔(6)处，其中所述液滴(2)与所述光学测量仪器(1)的所述光学系统(43)物理上隔开，且仅被所述液体处理系统(3)的所述液体处理吸头(4)以及所述液体处理吸头(4)内的所述液体样本(30)物理接触，具有所述第一光学元件(18)的所述光源(8)从而与所述液滴(2)隔开第一气隙(15)，而所述检测器(10)从而与所述液滴(2)隔开第二气隙(16)，其中所述光学测量仪器(1)进一步包括被配置用于检测穿透所述液滴(2)的光的实际光学路径长度或用于控制所述液滴(2)的大小和位置的成像芯片(32)，以及其中所述液体处理系统(3)的所述中央处理器(44)由所述光学测量仪器(1)的所述处理器(13)控制，所述泵(39)与所述光学测量仪器(1)的所述处理器(13)以及与所述液体处理系统(3)的所述中央处理器(44)的有效组合是一种用于相对于所述光学系统(43)的至少一个光学元件(18、19)来适配所述液滴(2)的大小的手段。