[发明专利]一种定位AP的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201480019518.8 申请日: 2014-08-13
公开(公告)号: CN105519140B 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 李颖哲;刘勇;武凯;陈斌 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04W4/02 分类号: H04W4/02;H04W64/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例提供了一种定位AP的方法,包括:获取预先建立的AP指纹库,所述AP指纹库包括在多个测量点获取到的多条AP指纹,所述AP指纹包括对应测量点的位置信息、AP的MAC地址以及该AP的信号强度;从所述AP指纹库中查找与待定位的AP的MAC地址相同的多条AP指纹;根据查找到的所述多条AP指纹对应测量点的位置信息以及信号强度,计算查找到的各条AP指纹的梯度大小和梯度方向;根据所述各条AP指纹的梯度大小和梯度方向,确定所述AP的水平位置。本发明实施例还提供了一种定位AP的装置。采用本发明,可以提高AP定位的精确度。
搜索关键词: 指纹 测量点 指纹库 方法和装置 预先建立 查找
【主权项】:
1.一种定位AP的方法,其特征在于,所述方法包括:获取预先建立的AP指纹库,所述AP指纹库包括在多个测量点获取到的多条AP指纹,所述AP指纹包括对应测量点的位置信息、AP的MAC地址以及该AP的信号强度;从所述AP指纹库中查找与待定位的AP的MAC地址相同的多条AP指纹;根据查找到的各条AP指纹对应测量点的位置信息,计算所述各条AP指纹对应测量点之间的间距;根据所述各条AP指纹对应测量点之间的间距,从查找到的所述多条AP指纹中查找目标AP指纹对应测量点的邻近AP指纹;根据所述目标AP指纹对应测量点的位置信息以及所述邻近AP指纹对应测量点的位置信息,计算所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向,并根据所述目标AP指纹的信号强度以及所述邻近AP指纹的信号强度,计算所述目标AP指纹与所述邻近AP指纹的信号强度差;根据所述目标AP指纹与所述邻近AP指纹的信号强度差,确定所述目标AP指纹的梯度大小,并根据所述目标AP指纹对应测量点到所述邻近AP指纹对应测量点的方向,确定所述目标AP指纹的梯度方向;根据所述各条AP指纹的梯度大小和梯度方向,确定所述AP的水平位置。
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