[发明专利]全视野三维表面测量在审

专利信息
申请号: 201480026823.X 申请日: 2014-03-11
公开(公告)号: CN105377109A 公开(公告)日: 2016-03-02
发明(设计)人: R.翟恩 申请(专利权)人: 光圈诊断有限公司
主分类号: A61B1/04 分类号: A61B1/04;G01C3/08;H04N13/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 方世栋;张懿
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的实施例可以被用来以全视野和以3-D的方式执行表面的测量,诸如人体的外部表面和内部表面。电磁辐射源可以被配置为以对应于空间信号调制算法的图案投射所述电磁辐射。所述电磁辐射源也可以被配置为以适合于传输通过所述辐射被投射在其内的介质的频率投射所述电磁辐射。图像传感器可以被配置为捕捉表示所投射的图案的图像数据。图像处理模块可以被配置为从所述图像传感器接收所捕捉的图像数据并且使用所捕捉的图像数据和所述空间信号调制算法计算所述表面的全视野3-D表示。显示装置可以被配置为显示所述表面的所述全视野3-D表示。
搜索关键词: 视野 三维 表面 测量
【主权项】:
一种用于全视野三维成像的系统,所述系统包括:电磁辐射源,所述电磁辐射源被配置为将电磁辐射投射到表面上,所述电磁辐射源被配置为以对应于空间信号调制算法的图案以及以被配置用于邻近所述表面的介质的频率投射所述电磁辐射;图像传感器,所述图像传感器被配置为捕捉表示所投射的图案的图像数据;图像处理模块,所述图像处理模块被配置为从所述图像传感器接收所捕捉的图像数据并且使用所捕捉的图像数据和所述空间信号调制算法计算所述表面的全视野三维表示;以及显示装置,所述显示装置被配置为显示所述表面的所述全视野三维表示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于光圈诊断有限公司,未经光圈诊断有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480026823.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top