[发明专利]基板检测方法及基板检测用夹具有效
| 申请号： | 201480028288.1 | 申请日： | 2014-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN105209924B | 公开（公告）日： | 2018-11-20 |
| 发明（设计）人： | 山下宗宽 | 申请（专利权）人： | 日本电产理德股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;H05K3/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 日本国京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种针对多端子配线图形缩短检测次数的检测方法。基板检测方法是用于检测包括多个单位基板的片状基板的配线图形的方法，其中，各个单位基板具有多个多端子配线图形，通过将两个以上的单位基板的配线图形与用于进行电检测的基板检测装置相连接，用以判定所述配线图形的良好与否。所述方法包括如下步骤：选出形成在一个单位基板上且成为检测对象的一个配线图形，以及与所述一个配线图形相同地形成在另一单位基板上的另一配线图形；为了使一个配线图形和另一配线图形相短路，将一个配线图形的任意端子与另一配线图形的任意端子电连接；以及进行一个配线图形的任意端子以外的端子与另一配线图形的任意端子以外的端子间的导通检测。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基板检测方法，用于检测包括多个单位基板的片状基板的配线图形，其中，各个所述单位基板具有多个多端子配线图形，通过将两个以上的所述单位基板的配线图形与用于进行电检测的基板检测装置相连接，用以判定所述配线图形的良好与否，所述基板检测方法包括如下步骤：选出形成在一个单位基板上且成为检测对象的一个配线图形，以及与所述一个配线图形相同地形成在另一单位基板上的另一配线图形；为了使所述一个配线图形和所述另一配线图形相短路，将所述一个配线图形的任意端子与所述另一配线图形的任意端子电连接；以及进行所述一个配线图形的所述任意端子以外的端子与所述另一配线图形的所述任意端子以外的端子间的导通检测。
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