[发明专利]用于测定水分含量的物位测量仪在审

专利信息
申请号: 201480031516.0 申请日: 2014-06-03
公开(公告)号: CN105283739A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: 卡尔·格里斯鲍姆;约瑟夫·费伦巴赫;罗兰·韦勒 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284;G01N22/04
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 曹正建;陈桂香
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及物位测量。对回波曲线进行分析,并且根据该回波曲线来测定存储材料的物位和水分含量。物位测量仪以节能方式工作使得通过4...20mA两线式导体回路就足可以向所述仪器供电,该两线式导体回路也用于传输至少一些测量值。
搜索关键词: 用于 测定 水分 含量 测量仪
【主权项】:
一种用于测定存储材料的物位的物位测量仪,其包括:射频单元(101、502),其用于产生测量信号(102、512);信号处理单元(106、504),其用于根据所述测量信号的回波曲线(406、507)来测定所述存储材料的物位;及温度测量装置(706、707),其用于测量温度值以便测定温度;其中,所述物位测量仪被额外地设计成根据所述回波曲线来测定所述存储材料的水分含量,并且其中,所述物位测量仪被设计成使用所测量的温度值来改善所述水分含量的测定准确性。
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