[发明专利]用于转移电路层的工艺有效
申请号: | 201480034836.1 | 申请日: | 2014-06-16 |
公开(公告)号: | CN105324837B | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | M·波卡特;L·马里尼耶 | 申请(专利权)人: | SOITEC公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/78;H01L25/00 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人: | 程伟,王锦阳 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于转移隐埋电路层(2)的工艺。该工艺的特征在于,其包括下列步骤取得施主衬底(1,1’),所述施主衬底在内部包括用于停止刻蚀的区域(7,7’),并且所述施主衬底在其表面中被称为“前”侧的一个表面(12)覆盖有电路层(2);在所述施主衬底的覆盖有电路层(2)的一侧,在所述施主衬底的整个圆周上形成外围凹槽(3)或进行外围加工(3’),所述凹槽在距该衬底(1,1’)的横向边缘(13)一定距离处延伸,所述加工(3’)或所述凹槽(3)形成得足够深以完整穿过电路层(2)并且延伸进入施主衬底(1,1’);在所述电路层(2)的暴露侧(21)上以及经加工表面(13’)上或所述凹槽(3)的壁上沉积被称为“第二停止层”的用于选择性地停止所述电路层(2)的刻蚀的材料层(4),而不封堵所述凹槽(3);在由所述第二停止层(4)覆盖的侧将受主衬底(5)结合至所述施主衬底(1,1’);通过化学刻蚀施主衬底(1)的背侧(11)减薄施主衬底,直到达到所述用于停止刻蚀的区域(7,7’),从而实现所述隐埋电路层(2)到所述受主衬底(5)的转移。 | ||
搜索关键词: | 用于 转移 电路 工艺 | ||
【主权项】:
一种用于转移隐埋电路层(2)的工艺,其特征在于,该工艺包括下列步骤:‑取得施主衬底(1,1’),所述施主衬底在内部包括刻蚀停止区(7,7’),并且所述施主衬底在其被称为“前”侧的一侧(12)覆盖有电路层(2),‑在所述施主衬底(1,1’)的覆盖有电路层(2)的一侧,在所述施主衬底(1,1’)的整个圆周上形成外围凹槽(3)或进行外围加工(3’),所述外围凹槽在距该衬底(1,1’)的横向边缘(13)小于或等于5mm的距离(D1)处延伸,所述加工(3’)或所述凹槽(3)的深度形成为使得所述加工或所述凹槽完整穿过电路层(2)并且延伸进入施主衬底(1,1’),‑在所述电路层(2)的暴露侧(21)上以及在经加工侧(13’)上或所述凹槽(3)的壁上沉积被称为“第二停止层”的停止材料层(4),而不填满所述凹槽(3),所述停止材料层对于所述电路层(2)的刻蚀是选择性的,‑在由所述第二停止层(4)覆盖的侧将受主衬底(5)结合至所述施主衬底(1,1’),‑通过化学刻蚀施主衬底(1)的背侧(11)减薄施主衬底,直到达到所述刻蚀停止区(7,7’),从而实现所述隐埋电路层(2)到所述受主衬底(5)的转移。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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