[发明专利]具有精确控制的颗粒密度的表面多孔颗粒及其准备和使用方法有效
| 申请号： | 201480038448.0 | 申请日： | 2014-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN105358247B | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 魏大程 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | B01J20/28 | 分类号： | B01J20/28;B01J20/283;B01J20/284;B01J20/30;B01J20/10;B01D15/20 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 李晓冬 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及表面多孔颗粒，其中，每个颗粒包括中空核、无孔内壳和多孔外壳。中空核半径的范围是完整颗粒半径的20％到90％，颗粒中值尺寸的范围从大约0.5μm到100μm，其中，粒径分布(一个标准差)不多于中值粒径的15％，颗粒的比表面积从5m2/g到1000m2/g，并且颗粒包括从氧化硅、氧化铝、氧化钛或氧化锆中选择的金属氧化物。颗粒可以在分离装置(例如，色谱柱)中构成固定相。此外，用于制造这些表面多孔颗粒的方法被公开。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 精确 控制 颗粒 密度 表面 多孔 及其 准备 使用方法 | ||
【主权项】：
1.多个表面多孔颗粒，每个颗粒包括：中空核；无孔内壳；和充分多孔外壳，其中，所述中空核半径的范围是完整颗粒半径的20％到90％；所述颗粒中值尺寸的范围是0.5μm到100μm，其中，粒径分布以一个标准差衡量不多于中值粒径的15％；所述颗粒的比表面积从5m2/g到1000m2/g；并且所述颗粒包括从氧化硅、氧化铝、氧化钛或氧化锆中选择的金属氧化物。
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