[发明专利]用于光片显微技术的设备

摘要

本发明涉及一种用于光片显微技术的设备。这种设备包括用于容纳位于介质(2)中的样本(3)的样本容器(1)。样本容器(1)相对于平面形参照面被对齐。该设备还包括具有照明物镜(6)的照明光学系统，用于以光片照明样本(3)，其中，照明物镜(6)的光学轴线(7)与光片位于这样的平面中，该平面与参照面的法线围成不等于0的照明角度(β)，以及具有检测物镜(8)的检测光学系统，检测物镜(8)的光学轴线(9)与参照面的法线围成不等于0的检测角度(δ)。在这种设备中设有包括一个或多个厚度预定且材料预定的层的分离层系统，用于将样本(3)位于其中的介质(2)与照明物镜(6)和检测物镜(8)空间分离，其中，该分离层系统以平行于参照面的边界面(11)至少在对于照明物镜(6)和检测物镜(8)为照明和探测可到达的区域中接触介质(2)。在此，照明角度(β)和检测角度(δ)是借助检测物镜(8)或照明物镜(6)的数值孔径(NA_D，NA_B)来预先给定的。

主权项

1.一种用于光片显微技术的设备，包括：‑用于容纳位于介质(2)中的样本(3)的样本容器(1)，其中，所述样本容器(1)相对于由样本台(4)限定的平面形的参照面被对齐，‑具有照明物镜(6)的照明光学系统，用于以光片照明样本(3)，其中，照明物镜(6)的光学轴线(7)与光片位于这样的平面中，该平面与所述参照面的法线围成不等于0的照明角度β，‑具有检测物镜(8)的检测光学系统，所述检测物镜(8)的光学轴线(9)与所述参照面的法线围成不等于0的检测角度δ，其特征在于，‑所述设备包括具有一个或多个厚度预定且材料预定的层的、用于将样本(3)位于其中的所述介质(2)与所述照明物镜(6)和所述检测物镜(8)空间分离的分离层系统，其中，该分离层系统以平行于所述参照面的边界面(11)至少在对于所述照明物镜(6)和所述检测物镜(8)为照明和检测可到达的区域中接触所述介质(2)。