[发明专利]测量方法、测量装置以及计算机可读记录介质有效
| 申请号： | 201480039982.3 | 申请日： | 2014-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN105593635B | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 森本吉春;柾谷明大;高木哲史 | 申请（专利权）人： | 4维传感器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本和*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 对通过照相机拍摄物体面的二维格子像而得的拍摄像进行二维傅里叶变换来求出特定频率的相位，根据该相位测量物体面的位移。由此，可以不进行对具有准确的余弦波的亮度分布的格子进行投影地，进行抗噪性强的测量。此外，处理简单且用于测量的像素数比采样莫尔法少，能够高速地求出位移。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 测量 装置 以及 计算机 可读 记录 介质 | ||
【主权项】：
一种测量方法，根据通过照相机拍摄物体面的二维格子像而得的二维格子拍摄像，测量物体面的位移，该测量方法的特征在于，具有如下工序：在使照相机像素的方向与位移前的所述二维格子拍摄像对应，并且使所述二维格子拍摄像中的x方向的1个周期与照相机的Nx个像素对应，使y方向的1个周期与照相机的Ny个像素对应的状态下，通过照相机拍摄物体面的二维格子像，得到二维格子拍摄像的工序，其中，Nx是大于2的整数，Ny是大于2的整数；根据所述二维格子拍摄像，在所述二维格子拍摄像中，针对相当于所述格子的1个周期的x方向和y方向的频率得到其相位的工序；以及根据该相位求出物体面的位移的工序。
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