[发明专利]使用自动聚焦反馈进行立体侧倾校正的系统、方法及设备有效
申请号: | 201480042872.2 | 申请日: | 2014-08-05 |
公开(公告)号: | CN105453136B | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 维卡斯·拉马钱德兰;卡林·米特科夫·阿塔纳索夫;鲁本·曼纽尔·维拉尔德 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80;G06T7/571;H04N13/246;H04N13/239 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 宋献涛 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明揭示用于使用自动聚焦反馈来校正立体感图像传感器对的立体侧倾的系统和方法。从由所述图像传感器对的每一传感器捕获的图像之间物体的视差来估计图像中所述物体的立体深度。从自动聚焦透镜位置找到所述物体的自动聚焦深度。如果所述立体深度与所述自动聚焦深度之间的差不为零,那么使所述图像中的一者变形,并重新计算所述视差,直到所述物体的所述立体深度和所述自动聚焦深度实质上相同为止。 | ||
搜索关键词: | 使用 自动 聚焦 反馈 进行 立体 校正 | ||
【主权项】:
1.一种用于以数字方式校正一对成像传感器之间的侧倾角视差的系统,其包括:控制模块,其经配置以:从第一成像传感器获得物体的第一图像数据;从第二成像传感器获得所述物体的第二图像数据;使用所述第一图像数据及所述第二图像数据来确定所述物体的立体感第一深度;从所述第一成像传感器和所述第二成像传感器的自动聚焦透镜位置来确定所述物体的自动聚焦第二深度;将所述第一深度与所述第二深度进行比较;且经由以下操作基于所述第一深度与所述第二深度之间的差来以数字方式校正所述第一成像传感器与所述第二成像传感器之间的所述侧倾角视差:通过基于所述第一深度和所述第二深度之间的所述差反复估计侧倾角校正,且基于所估计的侧倾角校正而投射或变形由所述对成像传感器中的一者所捕获的图像数据,直到所述第一深度和所述第二深度相等为止。
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