[发明专利]确定或预测细胞特征的方法有效
| 申请号： | 201480043261.X | 申请日： | 2014-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN105518458B | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | B·汤普森;D·詹姆斯;S·L·戴维斯 | 申请（专利权）人： | 瓦里泰细胞有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/50 | 分类号： | G01N33/50;G05B17/02;G05B13/04;C12M1/36;C12M1/34 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 冯剑明 |
| 地址： | 爱尔兰*** | 国省代码： | 爱尔兰;IE |
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| 摘要： | 描述了一种确定或预测查询细胞特征，例如查询细胞身份的方法。该方法包括以下步骤：采用多种化学细胞应激原分子培养查询细胞；确定查询细胞在至少三种化学细胞应激原分子中的每种化学细胞应激原分子存在下的生长响应，得到查询细胞‑特异性生长响应指纹；将查询细胞‑特异性生长响应指纹与一种或多种参考细胞特异性生长响应指纹进行比较，其中一种或多种参考细胞特异性生长响应指纹与特征已知的一个或多个细胞对应。可以根据查询细胞特异性生长响应指纹与一种或多种参考细胞特异性生长响应指纹之间的相关性水平确定细胞的特点(例如，细胞的身份)。 | ||
| 搜索关键词： | 细胞 指纹 查询 细胞特异性 响应 细胞应激 生长 特异性生长 细胞特征 参考 方法描述 水平确定 预测 身份 | ||
【主权项】：
1.一种预测源自单一亲代宿主细胞群的一组克隆细胞相对分批补料性能的计算机实施方法，该方法包括以下步骤：‑检测每个克隆在存在和不存在至少三种化学细胞应激原分子条件下的生长水平；‑比较每个克隆在存在和不存在至少三种化学细胞应激原分子中的每种化学细胞应激原分子条件下的生长水平，提供每个克隆在每种应激微环境中的标准化生长响应值；‑在计算模型中输入克隆的特异性生长响应指纹，包括每个克隆在每种应激微环境中的标准化生长响应值，其中计算模型是根据分批补料性能已知的一组校正克隆的生长响应指纹建立的，其中计算模型经配置，用于输出每个克隆的预测分批补料性能，预测该组克隆细胞的相对分批补料性能。
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