[发明专利]用于测量光学各向异性参数的方法和装置在审
| 申请号： | 201480049210.8 | 申请日： | 2014-10-03 |
| 公开（公告）号： | CN105745517A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | M.H.史密斯;邹阳 | 申请（专利权）人： | 阿克索梅特里克斯公司 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;刘春元 |
| 地址： | 美国阿*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用以测量玻璃或其他基板上的膜的光学各向异性属性的方法和系统。这种技术适合于生产环境，并且（甚至对于非常高像素密度的显示器来说）没有被LCD面板上的TFT有效区域或CF有效区域强烈地影响。提供了用于测量光学各向异性的量值和取向的方法。这些方法和系统包括用于在反射或透射配置下测量各向异性材料的光学各向异性测量装置。该方法和系统可以以一个或更多个旋转角度测量样本的Mueller矩阵、二向衰减取向或延迟来计算各向异性量值和取向。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 光学 各向异性 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种在装置中用于测量材料的光学各向异性属性的方法，包括：测量如下中的一个：（1）材料的Mueller矩阵，（2）材料的二向衰减取向，以及（3）材料的延迟量值；以及基于测量的如下中的一个来确定与材料的各向异性量值成比例的值：（1）材料的Mueller矩阵，（2）材料的二向衰减取向，以及（3）材料的延迟量值。
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