[发明专利]镜面研磨晶圆的制造方法有效
申请号: | 201480049474.3 | 申请日: | 2014-08-20 |
公开(公告)号: | CN105612605B | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 桥本浩昌;宇佐美佳宏;青木一晃;大葉茂 | 申请(专利权)人: | 信越半导体株式会社 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 谢顺星;张晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明是一种镜面研磨晶圆的制造方法,其对于从硅晶棒切片而成的多片硅晶圆,以批次方式分别实施下述各工序来制造多片镜面研磨晶圆,这些工序包含:切片歪斜除去工序,其除去因切片所产生的表面的歪斜;蚀刻工序,其除去在切片歪斜除去工序中所产生的歪斜;以及,双面研磨工序,其将蚀刻后的硅晶圆的双面进行镜面研磨;其特征在于,从在切片歪斜除去工序中的同一批次内已处理的硅晶圆当中,选择要在双面研磨工序中以批次方式处理的硅晶圆,且将该选择的硅晶圆的数量设定为与在切片歪斜除去工序中已处理的硅晶圆的数量相同或其约数。由此,提供一种镜面研磨晶圆的制造方法,其能够制造平坦度良好的镜面研磨晶圆。 | ||
搜索关键词: | 研磨 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种镜面研磨晶圆的制造方法,其对于从硅晶棒切片而成的多片硅晶圆,以批次方式分别实施下述各工序来制造多片镜面研磨晶圆,这些工序包含:切片歪斜除去工序,其用于除去因所述切片而产生的表面的歪斜;蚀刻工序,其除去在所述切片歪斜除去工序中所产生的歪斜;以及,双面研磨工序,其将所述蚀刻后的硅晶圆的双面进行镜面研磨;其特征在于,从在所述切片歪斜除去工序中的同一批次内已处理的所述硅晶圆当中,选择要在所述双面研磨工序中以批次方式处理的所述硅晶圆,且将该选择的硅晶圆的数量设定为与在所述切片歪斜除去工序中已处理的所述硅晶圆的数量相同或其约数,选择在所述切片歪斜除去工序中的1个批次或多个批次内已处理的全部所述硅晶圆,作为在所述蚀刻工序中以批次方式处理的所述硅晶圆,由此将该选择的硅晶圆的数量设定为与在所述切片歪斜除去工序中已处理的所述硅晶圆的数量相同或其倍数。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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