[发明专利]镜面研磨晶圆的制造方法有效

专利信息
申请号: 201480049474.3 申请日: 2014-08-20
公开(公告)号: CN105612605B 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 桥本浩昌;宇佐美佳宏;青木一晃;大葉茂 申请(专利权)人: 信越半导体株式会社
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 谢顺星;张晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明是一种镜面研磨晶圆的制造方法,其对于从硅晶棒切片而成的多片硅晶圆,以批次方式分别实施下述各工序来制造多片镜面研磨晶圆,这些工序包含:切片歪斜除去工序,其除去因切片所产生的表面的歪斜;蚀刻工序,其除去在切片歪斜除去工序中所产生的歪斜;以及,双面研磨工序,其将蚀刻后的硅晶圆的双面进行镜面研磨;其特征在于,从在切片歪斜除去工序中的同一批次内已处理的硅晶圆当中,选择要在双面研磨工序中以批次方式处理的硅晶圆,且将该选择的硅晶圆的数量设定为与在切片歪斜除去工序中已处理的硅晶圆的数量相同或其约数。由此,提供一种镜面研磨晶圆的制造方法,其能够制造平坦度良好的镜面研磨晶圆。
搜索关键词: 研磨 制造 方法
【主权项】:
1.一种镜面研磨晶圆的制造方法,其对于从硅晶棒切片而成的多片硅晶圆,以批次方式分别实施下述各工序来制造多片镜面研磨晶圆,这些工序包含:切片歪斜除去工序,其用于除去因所述切片而产生的表面的歪斜;蚀刻工序,其除去在所述切片歪斜除去工序中所产生的歪斜;以及,双面研磨工序,其将所述蚀刻后的硅晶圆的双面进行镜面研磨;其特征在于,从在所述切片歪斜除去工序中的同一批次内已处理的所述硅晶圆当中,选择要在所述双面研磨工序中以批次方式处理的所述硅晶圆,且将该选择的硅晶圆的数量设定为与在所述切片歪斜除去工序中已处理的所述硅晶圆的数量相同或其约数,选择在所述切片歪斜除去工序中的1个批次或多个批次内已处理的全部所述硅晶圆,作为在所述蚀刻工序中以批次方式处理的所述硅晶圆,由此将该选择的硅晶圆的数量设定为与在所述切片歪斜除去工序中已处理的所述硅晶圆的数量相同或其倍数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越半导体株式会社,未经信越半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480049474.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top