[发明专利]半导体放射线检测器、使用其的核医学诊断装置、以及半导体放射线检测器的制造方法有效
| 申请号： | 201480052242.3 | 申请日： | 2014-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN105579868A | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 小南信也;瓮久实;小桥启司 | 申请（专利权）人： | 日立阿洛卡医疗株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;G01T1/161;H01L31/08 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 半导体放射线检测器(101)使用被阴极(112)和阳极(113)夹着的半导体晶体(111)而构成。半导体晶体(111)由如下溴化铊单晶构成：作为杂质的铅的浓度为不足0.1ppm，且X射线衍射中的(110)摇摆曲线的、试样倾斜角扫描中的半峰全宽为1.6deg以下，试样面内旋转角扫描中的半峰全宽为3.5deg以下，X射线入射角扫描中的半峰全宽为1.3deg以下。由此，能够测量122keV和662keV的γ射线能谱，针对122keV的γ射线得到8％以下的能量分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 放射线 检测器 使用 核医学 诊断 装置 以及 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体放射线检测器，使用被阴极和阳极夹着的半导体晶体而构成，其特征在于，所述半导体晶体由如下溴化铊单晶构成：作为杂质的铅的浓度不足0.1ppm，且X射线衍射中的(110)摇摆曲线的试样倾斜角扫描中的半峰全宽为1.6deg以下，试样面内旋转角扫描中的半峰全宽为3.5deg以下，X射线入射角扫描中的半峰全宽为1.3deg以下。
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