[发明专利]光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法有效
| 申请号： | 201480052569.0 | 申请日： | 2014-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN105578968B | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 石井稔浩;高桥阳一郎;菅原悟;下川丈明;山下宙人;佐藤雅昭 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光;株式会社国际电气通信基础技术研究所 |
| 主分类号： | A61B10/00 | 分类号： | A61B10/00;A61B5/1455 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 安之斐 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光学传感器，包括：照射系统，包括至少一个光照射器以将光照射到测试的对象上；以及检测系统，检测从照射系统所照射的并且在测试的对象中所传播的光。此外，光照射器将非平行的多个光束照射到测试的对象的相同位置上。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 传感器 测试 设备 以及 特性 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学传感器，包括：照射系统，包括至少一个光照射器以将光照射到测试的对象上；以及检测系统，被配置为检测从所述照射系统所照射的并且在所述测试的对象中所传播的光；其中，所述光照射器将非平行的多个光束照射到所述测试的对象的相同位置上；其中，所述光照射器包括表面发射激光器阵列和透镜，所述表面发射激光器阵列具有多个发光部，所述透镜被布置在来自所述多个发光部的多个光束的光路上并且将所述多个光束改变为所述非平行的多个光束，以及所述透镜的主点与所述表面发射激光器阵列之间的距离不等于所述透镜的焦距，并且所述距离与所述焦距之间的差异小于1mm。
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