[发明专利]用于绝对角度位置的感测系统有效

专利信息
申请号: 201480052943.7 申请日: 2014-07-28
公开(公告)号: CN105593645B 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 雷内·皮蒂尼耶 申请(专利权)人: BEI传感器及系统有限责任公司
主分类号: G01D5/249 分类号: G01D5/249;G01D5/347
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 代理人: 陆建萍,郑霞
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种确定待感测的旋转构件的绝对角度位置的传感器系统。该传感器系统可以包括转子和轴,该转子具有联接至该转子的第一磁体,该轴具有在其上的螺纹。该传感器系统还可以包括具有第二磁体的套筒以及与轴的螺纹互补的螺纹。该套筒可以配置成根据转子的旋转沿该轴轴向地行进。该传感器系统还可以包括配置成感测第一磁体的定向的第一感测器,和配置成感测该第二磁体的沿该轴的位置的至少一个第二感测器。通过使用该传感器系统,可以确定圈数的绝对数量,和因此确定该旋转构件的绝对角度位置。
搜索关键词: 用于 绝对 角度 位置 系统
【主权项】:
一种用于确定旋转构件的绝对角度位置的传感器,所述传感器包括:处理器;转子,其配置成根据所述旋转构件的旋转而旋转,所述转子包括第一磁体和轴,所述第一磁体联接至所述转子,所述轴具有在其上的螺纹;套筒,其包括第二磁体和与所述轴的所述螺纹互补的螺纹,所述套筒配置成根据所述转子的旋转沿所述轴轴向行进;第一感测器,其配置成感测所述第一磁体的定向;和多个第二感测器,其中所述多个第二感测器的组合用于在所述套筒根据所述转子的旋转沿所述轴轴向行进时感测所述第二磁体沿所述轴的位置,并且其中所述处理器确定从所述多个第二感测器中的至少两个连续的感测器接收的信号之间的差异以抵偿由所述第一磁体引起的干扰。
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