[发明专利]减小旋转设备的误差的方法和设备

摘要

本发明涉及一种用于在确定工件(13)的坐标或者在加工工件(13)时减小旋转设备的误差的方法，具有步骤：a)将第一工件布置在旋转设备上，b)将坐标测量装置定位在第一周向位置上，c)使第一工件围绕旋转轴线旋转，测量第一工件的表面的第一走向，由此产生第一测量信号，d)将测量装置定位在与第一周向位置不同的第二周向位置上，e)使第一工件围绕旋转轴线旋转，测量第一工件的表面的第二走向，由此产生第二测量信号，f)可选地至少重复进行一次步骤d)和e)，由此产生其它测量信号，g)第一、第二测量信号和可选的其它测量信号具有冗余表面信息和误差信息，由第一、第二测量信号和可选的其它测量信号将冗余表面信息和误差信息彼此分隔开。

主权项

1.一种用于在确定工件(13)的坐标时减小旋转设备(11、12)的误差的方法，其中，所述旋转设备(11、12)能够在确定坐标期间使工件(13)围绕旋转设备(11、12)的旋转轴线进行旋转运动，并且其中，所述方法具有以下步骤：a)将第一工件(13)布置在旋转设备(11、12)上，b)将用于测量第一工件(13)的表面的坐标的坐标测量装置(209)定位在关于旋转轴线周向的第一周向位置上，c)通过旋转设备(11、12)使第一工件(13)围绕旋转轴线旋转，而通过定位于第一周向位置上的坐标测量装置(209)测量第一工件(13)的表面的第一走向，所述第一走向由于第一工件(13)的旋转而围绕旋转轴线延伸，由此产生第一走向的相应的第一测量信号，d)将坐标测量装置(209)定位在关于旋转轴线周向的第二周向位置上，所述第二周向位置与第一周向位置不同，e)通过旋转设备(11、12)使第一工件(13)围绕旋转轴线旋转，而通过定位于第二周向位置上的坐标测量装置(209)测量第一工件(13)的表面的第二走向，所述第二走向由于第一工件(13)的旋转而围绕旋转轴线延伸，由此产生第二走向的相应的第二测量信号，f)第一测量信号和第二测量信号具有关于第一工件(13)围绕旋转轴线延伸的表面的冗余表面信息和关于旋转设备(11、12)的误差的误差信息，所述误差由于旋转轴线的实际位置和实际定向与旋转轴线的相应的理想位置和理想定向之间的偏差产生，由所述第一测量信号和第二测量信号将冗余表面信息和误差信息彼此分隔开，g)在坐标测量装置(209)关于旋转轴线的轴向处于与在步骤c)和e)中相同的轴向位置期间，在考虑与冗余表面信息分隔开的误差信息的情况下，通过坐标测量装置(209)测量第二工件的表面的坐标。