[发明专利]用于测定测试对象的太赫兹测量设备和方法有效

专利信息
申请号: 201480063480.4 申请日: 2014-11-17
公开(公告)号: CN105765340B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: D·施蒂希 申请(专利权)人: 伊诺艾克斯有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 俞海舟
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种测量设备(1),为了测定测试对象(2),该测量设备具有发射器‑接收器单元(3)以及对应的镜组件(4)。镜组件(4)包括第一镜(7),该第一镜在x‑y平面(Exy)内构成第一焦点(B1)和第二焦点,并且为了使辐射(S、R)在所述焦点(B1)之间转向,该第一镜至少在部分区段上椭圆形弯曲。此外,镜组件(4)包括第二镜(8),该第二镜设置在第一焦点(B1)的区域内并且用于使辐射(S、R)在横向于x‑y平面(Exy)延伸的z方向和x‑y平面(Exy)之间转向。借助于测试对象保持器(5)将待测定的测试对象(2)设置在第二焦点的区域内。在测试对象(2)上反射的辐射(R)借助于控制单元(6)来评价。按本发明的测量设备(1)能以简单和灵活的方式实现对测试对象(2)的测定、特别是能实现对构成为具有圆形横截面的塑料管的测试对象(2)的全面测定。
搜索关键词: 用于 测定 测试 对象 测量 设备 方法
【主权项】:
1.用于测定测试对象的太赫兹测量设备,所述太赫兹测量设备包括:‑至少一个发射器‑接收器单元(3;3、3'),该发射器‑接收器单元具有发射器(9)和对应的接收器(10),该发射器用于发射在0.01THz至50THz的太赫兹频率范围内的太赫兹辐射(S),该接收器用于探测在测试对象(2)上反射的在0.01THz至50THz的太赫兹频率范围内的辐射(R);‑至少一个镜组件(4;4、4'),所述镜组件具有第一镜(7;7、7'),该第一镜在x‑y平面(Exy;Exy、Exy')内形成第一焦点(B1;B1、B1')和第二焦点(B2;B2、B2'),并且该第一镜为了使辐射(S、R)在各焦点(B1、B2;B1、B2、B1'、B2')之间转向至少在部分区段上是椭圆形弯曲的,所述镜组件具有设置在第一焦点(B1;B1、B1')的区域中的第二镜(8;8、8'),该第二镜用于使辐射(S、R)在横向于x‑y平面(Exy;Exy、Exy')延伸的z方向和x‑y平面(Exy;Exy、Exy')之间转向;‑测试对象保持器(5),用于将测试对象(2)设置在第二焦点(B2;B2、B2')的区域中;以及‑控制单元(6),用于评价所探测到的辐射(R)并且基于对在测试对象(2)的各个边界层上反射的THz脉冲的运行时间差的测量来确定测试对象(2)的壁厚(dw)或层厚(d1、d2)。
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