[发明专利]光功率监控装置、光纤激光器以及光功率监控方法有效
申请号: | 201480076116.1 | 申请日: | 2014-11-12 |
公开(公告)号: | CN106030362B | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 柏木正浩 | 申请(专利权)人: | 株式会社藤仓 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42;H01S3/067 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 李洋,青炜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供光功率监控装置、光纤激光器以及光功率监控方法。光功率监控装置(1)具备低折射率树脂层(20),覆盖光纤(F1、F2)的连接部、以及从连接部起的光纤(F1)的规定区域;高折射率树脂层(21),覆盖光纤(F2)的未由低折射率树脂层(20)覆盖的区域;以及输出光检测器(16),配置于低折射率树脂层(20)的前向光的输出侧的端部、或者从端部朝前向光的输出侧分离的位置。 | ||
搜索关键词: | 功率 监控 装置 光纤 激光器 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种光功率监控装置,其利用光检测部测定从光纤的侧面漏出的光的功率,其特征在于,具备:第1光纤;第2光纤,其通过连接部与所述第1光纤连接,并位于在所述第1光纤传播的前向光的输出侧;低折射率树脂层,其覆盖所述连接部以及所述第2光纤的在所述连接部的附近区域,并且所述低折射率树脂层的折射率小于所述第2光纤的包层的折射率;高折射率树脂层,其覆盖所述第2光纤的至少未由所述低折射率树脂层覆盖的区域,并且所述高折射率树脂层的折射率为所述第2光纤的包层的折射率以上;以及所述光检测部,该光检测部的光入射部配置在所述低折射率树脂层的沿所述第1光纤以及所述第2光纤的轴向处于前向光的输出侧的端部的位置、或者朝前向光的输出侧远离所述端部的位置,并且该光检测部对从所述第2光纤的包层漏出且通过所述高折射率树脂层进而从所述光入射部入射的光进行检测。
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