[发明专利]原子吸收光度计及原子吸收测定方法有效
| 申请号： | 201480083329.7 | 申请日： | 2014-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN107076666B | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 杉原加寿雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 31300 上海华诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种一方面可抑制试样的消耗量、另一方面可在短时间内容易地进行使用多种方法的本底修正的原子吸收光度计及原子吸收测定方法。本发明根据1个数据获取周期内所获得的各测定期间(T41～T46)内的测定数据，通过D2灯法、塞曼法及自蚀法这各种方法来进行本底修正。使用第1～第3本底测定期间(T44、T46、T42)内所获得的各测定数据(本底数据)对原子吸收测定期间(T41)内所获得的共通的测定数据(原子吸收数据)进行本底修正。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 吸收 光度计 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种原子吸收光度计，其特征在于，包括：/n原子化部，其通过使试样原子化来产生原子蒸气；/n第1光源，其对所述原子化部中产生的原子蒸气中照射原子吸收测定用测定光；/n第2光源，其对所述原子化部中产生的原子蒸气中照射本底测定用测定光；/n磁场产生部，其使所述原子化部产生磁场；/n检测器，其通过对通过所述原子化部之后的光进行检测来获取测定数据；/n测定数据获取处理部，其在数据获取周期获取各测定期间内的测定数据，所述数据获取周期包含在未从所述磁场产生部产生磁场的状态下从所述第1光源照射测定光的原子吸收测定期间、在未从所述磁场产生部产生磁场的状态下从所述第2光源照射测定光的第1本底测定期间、在从所述磁场产生部产生有磁场的状态下从所述第1光源照射测定光的第2本底测定期间、以及在未从所述磁场产生部产生磁场的状态下从所述第1光源以过电流照射测定光的第3本底测定期间；/n第1本底修正处理部，其根据所述第1本底测定期间内所获得的测定数据，通过D2灯法对所述原子吸收测定期间内所获得的测定数据进行修正；/n第2本底修正处理部，其根据所述第2本底测定期间内所获得的测定数据，通过塞曼法对所述原子吸收测定期间内所获得的测定数据进行修正；/n第3本底修正处理部，其根据所述第3本底测定期间内所获得的测定数据，通过自蚀法对所述原子吸收测定期间内所获得的测定数据进行修正；以及/n显示部，其显示通过所述第1本底修正处理部、所述第2本底修正处理部、所述第3本底修正处理部进行修正所得的测定结果。/n
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