[发明专利]测试装置、测试系统以及测试方法在审
| 申请号： | 201510004550.5 | 申请日： | 2015-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN104977483A | 公开（公告）日： | 2015-10-14 |
| 发明（设计）人： | 吕俊毅 | 申请（专利权）人： | 吕俊毅 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试装置、测试系统以及测试方法。测试装置用以测试至少一电子装置。测试装置包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器通过多个连接接口分别耦接至电子装置的多个功能性电路，分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息。处理器接收对应信息，依据对应信息来决定至少一电子装置的产品群组。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，用以测试至少一电子装置，其特征在于，包括：测试数据传收器，通过多个连接接口分别耦接至该电子装置的多个功能性电路，分别传送对应该些功能性电路的多个测试数据以针对该些功能性电路进行测试以产生多个对应信息；以及处理器，耦接该测试数据传收器，传送该些测试数据至该测试数据传收器，并由该测试数据传收器接收对应信息，并依据该些对应信息来决定该至少一电子装置及各该功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。
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