[发明专利]W/Cu/CuCrZr复合构件的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510008132.3 申请日: 2015-01-07
公开(公告)号: CN104607878B 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 秦思贵;刘国辉;史英利;罗广南;王铁军;王万景;黄鑫;彭凌剑 申请(专利权)人: 安泰科技股份有限公司;北京安泰中科金属材料有限公司
主分类号: B23P15/00 分类号: B23P15/00
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙)11387 代理人: 刘春成,荣红颖
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种W/Cu/CuCrZr复合构件的制备方法。该方法包括工件处理、组装、封焊以及热等静压处理四个步骤,其中在所述工件处理步骤中,将W/Cu复合构件和与所述W/Cu复合构件配合使用的CuCrZr构件清洗干净,然后在W/Cu复合构件的待接触面和/或与所述W/Cu复合构件配合使用的CuCrZr构件的待接触面镀上厚度为0~0.2mm金属层;在热等静压处理步骤中,对封焊好的组装后W/Cu/CuCrZr复合构件进行热等静压处理。本发明工艺具有操作简单、工装设备可重复利用、成本低廉的优点,而且得到的W/Cu/CuCrZr复合构件具有高界面结合强度。
搜索关键词: cu cucrzr 复合 构件 制备 方法
【主权项】:
一种W/Cu/CuCrZr复合构件的制备方法,其特征在于,依次包括工件处理、组装、封焊以及热等静压处理四个步骤,其中:在所述工件处理步骤中,将W/Cu复合构件和与所述W/Cu复合构件配合使用的CuCrZr构件清洗干净,然后在W/Cu复合构件的待接触面镀上厚度为0~0.2mm金属层和与所述W/Cu复合构件配合使用的CuCrZr构件的待接触面镀上厚度为0.2mm Ni‑Mn‑Ti层,其中最靠近CuCrZr构件外表面的Ni层厚度为0.1mm,Ni层外表面的Mn层厚度为0.05mm,Mn层外表面的Ti层厚度为0.05mm;在所述组装步骤中,按W/Cu/CuCrZr复合构件的结构,将CuCrZr构件的待接触面与所述W/Cu复合构件的待接触面配合在一起,然后放入包套中;在所述封焊步骤中,将装有组装后W/Cu/CuCrZr复合构件的包套抽真空并封焊;在热等静压处理步骤中,对封焊好的组装后W/Cu/CuCrZr复合构件进行热等静压处理;在所述热等静压处理步骤中,所述热等静压处理的烧结温度为550~1070℃、烧结压力为20~200MPa、保压时间为2‑10h。
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