[发明专利]AP杂散自动测试系统及方法在审
| 申请号： | 201510012192.2 | 申请日： | 2015-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN104618920A | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 赵栋 | 申请（专利权）人： | 广州杰赛科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 梁顺宜;郝传鑫 |
| 地址： | 510310 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种AP杂散自动测试系统，包括自动控制装置、待测试AP设备、功率调整器和分析仪，自动控制装置和待测试AP设备相连接，用于向待测试AP设备发送第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；待测试AP设备产生的射频信号经功率调整器处理后发送给分析仪；自动控制装置还和所述分析仪相连接，用于向分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从分析仪读取测试结果；自动控制装置包括：AP参数设置模块，用于生成该第一控制命令，第一控制命令带有调整待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；分析仪自动测试模块，用于生成该第二控制命令，第二控制命令带有调整分析仪测试射频信号时的参数配置的信息。 | ||
| 搜索关键词： | ap 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种AP杂散自动测试系统，包括自动控制装置、待测试AP设备、功率调整器和分析仪，其特征在于，所述自动控制装置和待测试AP设备连接，用于向待测试AP设备发送第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；所述待测试AP设备产生的射频信号经所述功率调整器处理后发送给所述分析仪；所述自动控制装置还和所述分析仪连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；所述自动控制装置包括：AP参数设置模块，用于生成所述第一控制命令，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；分析仪自动测试模块，用于生成所述第二控制命令，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。
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