[发明专利]一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置及使用方法有效
申请号: | 201510015880.4 | 申请日: | 2015-01-13 |
公开(公告)号: | CN105319402B | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 赵荣国;刘亚风;李其棒;言怡;蔡鹏 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 411105 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置及使用方法。用于检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置由两块用于固定金属试件的试件固定片、两根用于测量金属试件电阻的探针、两块用于固定探针的探针固定片、两根用于串接试件固定片和探针固定片的螺杆、八个用于固定试件固定片和探针固定片的螺母(配垫片)、两块用于试件与试件固定片之间绝缘的绝缘垫片组成。一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置可将探针固定于试件端部,确保电阻测量读数的稳定性,检测载荷或环境作用下金属试件电阻的微弱变化,提高测量的准确度和精确度,以便用电阻变化来表征金属材料的损伤。本发明适用于微电阻及微电阻变化测量领域。 | ||
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【主权项】:
一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置,其特征在于,包括:试件固定片,两边对称的有两个用于螺杆穿过的固定通孔,其中心有一个用于探针通过的通孔,两块试件固定片通过与试件两端接触对试件施加压力以固定试件;探针,两根探针分别与试件两端接触以测量试件的电阻,探针笔头上部圆形凸台直径大于探针笔身的直径;探针固定片,两边对称的有两个用于螺杆穿过的固定通孔,中心有一个用于固定探针的通孔,用以卡住探针笔头上部凸台,使探针与试件接触;螺杆,通过螺母将试件固定片和探针固定片整体固定。
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