[发明专利]一种调整电小尺寸弯折线微带天线性能的方法在审
申请号: | 201510016265.5 | 申请日: | 2015-01-13 |
公开(公告)号: | CN104577291A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 胡驰 | 申请(专利权)人: | 福建工程学院 |
主分类号: | H01Q1/00 | 分类号: | H01Q1/00;H01Q9/00 |
代理公司: | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人: | 王晓彬 |
地址: | 350118 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种调整电小尺寸弯折线微带天线性能的方法,包括以下步骤:步骤1)确定电小尺寸弯折线微带天线的接地板面积为S,步骤2)在介质基片内部插入一个金属片,金属片面积为S1,步骤3)通过天线性能的变化趋势,确定金属片面积S1的变化范围;步骤4)通过优化方法,确定最佳金属片面积S1。本发明提供了一个新的调整天线性能参数的方法;可以获得比现有技术下弯折线微带天线更好的天线性能指标。 | ||
搜索关键词: | 一种 调整 尺寸 折线 微带 天线 性能 方法 | ||
【主权项】:
一种调整电小尺寸弯折线微带天线性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)确定电小尺寸弯折线微带天线的接地板面积为S,边界条件为:en×E1=0,在S上;en×H1=JS,在S上;其中,介质基片中的电场为E1,磁场为H1,接地板上的面电流密度为Js,en为分界面的法向单位矢量;步骤2)在介质基片内部插入一个金属片,金属片面积为S1,调整后边界条件已变化如下:en×E1=0,在S上;en×H1=JS,在S上;en×E1=0,在S1上;en×H1=JS,在S1上;步骤3)通过天线性能的变化趋势,确定金属片面积S1的变化范围;步骤4)通过优化方法,确定最佳金属片面积S1。
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