[发明专利]降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法及装置有效
| 申请号： | 201510017224.8 | 申请日： | 2015-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN104615503B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 黎智 | 申请（专利权）人： | 广东华晟数据固态存储有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林瑞云 |
| 地址： | 511458 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法及装置。根据闪存各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分到不同的组，在实际巡检操作中，根据不同的组分配不同的巡检周期，ECC增长越快的页面，巡检周期越短，反之越长。减小了Nand Flash闪存的接口性能压力，即减小了对存储器对外接口的性能影响。 | ||
| 搜索关键词： | 性能影响 闪存 存储器接口 错误检测 巡检周期 减小 存储器 对外接口 接口性能 速度差异 物理特性 组分配 巡检 页面 | ||
【主权项】：
1.一种降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法，根据闪存各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分到不同的组，在实际巡检操作中，根据不同的组分配不同的巡检周期，ECC增长越快的页组，巡检周期越短，反之越长；所述方法还包括，根据闪存中各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分为不同的组，在实际巡检操作中，根据不同的页组的ECC增长速度的差异分配不同的ECC巡检门限值，ECC增长越快的页组，ECC巡检门限值越低，反之越高；所述方法还包括，对某个块中的某一页的读取操作完成后，判断该页当前ECC值是否已经超过该页所在组的巡检门限，否，则启动下一个定时周期，等待下一次定时任务；是，则将新数据写入新的页面，并让所述新页面内数据中的ECC归零。
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