[发明专利]光学薄膜的检查装置及方法在审
| 申请号： | 201510019517.X | 申请日： | 2015-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN104792799A | 公开（公告）日： | 2015-07-22 |
| 发明（设计）人： | 李银珪;朴宰贤;许宰宁 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;石磊 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学薄膜的检查装置及方法。本发明的光学薄膜的检查装置及方法具备：光源部，其具备照射绿色光或者蓝色光的第一光源部及照射红色光或者红外线的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部交替地向偏光部照射光；偏光部，其具备配置在所述光向摄像部入射的路径上的检查对象薄膜及检查用偏光板；以及摄像部，其以所述偏光部为基准而在所述光源的相反侧对所述偏光部进行摄像，由此能够完成暗黑模式及白色模式的全部检查。 | ||
| 搜索关键词： | 光学薄膜 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光学薄膜检查装置，其特征在于，具备：光源部，其具备照射绿色光或者蓝色光的第一光源部及照射红色光或者红外线的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部交替地向偏光部照射光；偏光部，其具备配置在所述光向摄像部入射的路径上的检查对象薄膜及检查用偏光板；以及摄像部，其以所述偏光部为基准而在所述光源的相反侧对所述偏光部进行摄像。
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