[发明专利]一种微细片层矿物径厚比的测算方法

摘要

本发明提供了一种微细片层矿物径厚比的测算方法，包括样品的配液，分散、制作悬浮液、测试并计算径厚比。采用电阻法原理，根据脉冲高度获得等效球体粒径d_c。采用图像法，得到所述样品的底面直径d。公式推导过程包括：根据等效球体粒径d_c和球形公式得到所述样品体积V。将片层样品等效为圆饼状（高度很小的圆柱体），根据圆饼的底面直径d，得到底面面积S。通过圆柱体体积公式得到圆饼的厚度h。根据径厚比定义：片层矿物底面直径和厚度的比值，得到径厚比为：                                                。本发明具有工作方式简单、工作量小，且原理明确、人为因素小、公式简练等优点，极具推广性。

主权项

一种微细片层矿物径厚比的测算方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将样品粉末配成溶液；(2)调整溶液的PH值；(3)向溶液添加分散剂分散；(4)对溶液进行超声波分散，制备悬浮液；(5)取适量悬浮液均匀分散于电阻法仪器的样品杯中，并将抽空空气但充满所述电解液的微孔管放置在所述电解液中，在所述微孔管内外的电解液中安装正负两个电极，并在所述电极的两端施加预定的电压；(6)取适量样品粉末，干燥、镀膜，利用扫描电镜或者透射电镜测量；(7)根据所得公式计算径厚比。