[发明专利]裸晶粒缺陷检测设备

摘要

本发明公开了一种裸晶粒检测设备，包括裸晶粒传输装置，对裸晶粒进行排列处理；裸晶粒探测传感器，检测裸晶粒是否进入图像采集装置的工作区域；多个图像采集装置，单个裸晶粒经过多个图像采集装置时，采集图像信息，传送给处理装置，处理装置判断裸晶粒表面是否合格；裸晶粒拾取装置，裸晶粒经过处理装置判断后，通过裸晶粒拾取装置对裸晶粒表面合格品或不合格品放入不同的存储仓。本发明将排列传输的裸晶粒经过图像采集装置时触发图像采集装置，将采集到的图像传送给处理装置，判断裸晶粒多面体的表面是否合格，最后通过裸晶粒拾取装置将合格或不合格品放入不同的存储仓，能减少人为因素的干扰和工作强度，节省成本并增加检测的准确度和一致性。

主权项

一种裸晶粒检测设备，其特征是，包括：裸晶粒传输装置，对裸裸晶粒按照设定的动作进行排列处理；裸晶粒探测传感器，检测裸裸晶粒是否进入裸晶粒采集装置的工作区域传输装置的位置；多个图像采集及处理装置，将单个裸晶粒经过多个图像采集及处理装置时，采集装置将采集到的图像信息传送到处理装置，处理装置将采集到的图像与设置好的合格裸芯粒的模板进行对比，判断待检裸晶粒表面是否合格；处理装置，包括工控机，或智能化设备，对采集装置传送过来的信息进行分析处理，判断裸晶粒是否合格，控制拾取装置运动动作；裸晶粒拾取装置，图像采集装置采集到的裸晶粒表面信息经过多个图像采集及处理装置判断后，通过裸晶粒拾取装置对裸晶粒表面合格品或不合格品放入不同的存储仓。