[发明专利]一种具有超深沟槽的瞬态电压抑制器结构在审

专利信息
申请号: 201510033858.2 申请日: 2015-01-23
公开(公告)号: CN104617157A 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 朱伟东;赵泊然 申请(专利权)人: 应能微电子(上海)有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人: 刘述生
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种具有超深沟槽的瞬态电压抑制器结构,其包含一具有第一导电类型的掺杂硅衬底,在所述掺杂硅衬底表面设置有一系列密排的超深沟槽,所述超深沟槽通过掺杂多晶硅的填充,并经过高温推进形成一个立体的具有第二导电类型的扩散掺杂区域,与具有第一导电类型的晶圆掺杂硅衬底形成一个纵向结构的PN结。该纵向结构的PN结的结面积由侧面积和底面积所组成。而纵向结构的PN结的结面积可以通过沟槽刻蚀的深度来增加,因此这种具有纵向PN结的TVS二极管结构可以在更小的芯片尺寸上承受更大的浪涌功率(千瓦级)或浪涌电流。
搜索关键词: 一种 具有 深沟 瞬态 电压 抑制器 结构
【主权项】:
一种具有超深沟槽的瞬态电压抑制器结构,其特征在于,包括:一具有第一导电类型(P型或N型)的掺杂硅衬底,在所述掺杂硅衬底表面设置有一系列密排的超深沟槽。
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