[发明专利]处理装置和测试方法在审
| 申请号： | 201510039062.8 | 申请日： | 2013-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN104597296A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 菊池裕之;相泽光范 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种机构，是装载器件用的机构，其中，包括：内单元，用于装载所述器件；以及外单元，可相对于所述内单元进行移动；所述机构能够对在所述内单元与所述外单元之间的锁定与解除锁定进行机械切换。
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