[发明专利]一种内存测试方法和系统有效
| 申请号： | 201510041957.5 | 申请日： | 2015-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN104575612B | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 陈健;赵鸿飞 | 申请（专利权）人： | 中科创达软件股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100191 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明的内存测试方法和系统，由以上方案可知，本发明接收用户的压力添加请求，该请求包括压力算法和目标解析区域，所述目标解析区域为待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域；之后，将所述压力算法关联至所述目标解析区域；在为各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对预先集成的各预设参数项所设定的参数值；在此基础上，接收用户的内存测试请求，基于所设定的各参数值，并调用所关联的各压力算法进行内存测试。可见，本发明可通过软件模拟系统内存满负载运行的具体场景，进而实现内存满载测试，不需专门的硬件设备，成本低、代价小，为内存满载测试的展开和实施带来了便利。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种内存测试方法，其特征在于，包括：接收用户的压力添加请求，所述压力添加请求包括压力算法和待测内存物理地址的目标解析区域，所述目标解析区域为：待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域；将所述压力算法关联至所述目标解析区域；在为所述各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对各预设参数项所设定的参数值；所述各预设参数项为预先集成的、实现内存测试所需的参数项；接收用户的内存测试请求，基于所设定的各预设参数项取值并调用所关联的各压力算法进行内存测试。
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