[发明专利]一种超级电容的测试方法有效

专利信息
申请号: 201510041980.4 申请日: 2015-01-27
公开(公告)号: CN104614609B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 王晓澎 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司37100 代理人: 姜明
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种超级电容的测试方法,包括测试电路,该测试电路包括控制电路、反馈电路和微处理器、LED显示灯;当向待测电容充电时,根据待测电容充放电过程中,电压、时间、容量函数关系计算该待测电容容量,测量过程由微控制器控制,计算结果存储在微控制器内并显示出来;当对待测电容充电完毕后,微控制器控制继电器而对待测电容进行放电,按一定时间间隔提取待测电容的电压,该数据存储在微处理器内,计算出待测电容的容量,存储在微处理器内,并显示出测量结果。该一种超级电容的测试方法与现有技术相比,可用于服务器、存储以及其他电子产品,实现超级电容电性的测试,提供可靠的数据,实用性强,易于推广。
搜索关键词: 一种 超级 电容 测试 方法
【主权项】:
一种超级电容的测试方法,其特征在于,包括测试电路,该测试电路包括连接待测电容的控制电路、与控制电路连接的反馈电路和微处理器、连接微处理器的LED显示灯,所述反馈电路连接上述微处理器;所述控制电路为待测电容的充放电电路,当向待测电容充电时,根据待测电容充放电过程中,电压、时间、容量函数关系计算该待测电容容量,测量过程由微处理器控制,计算结果存储在微处理器内并显示出来;当对待测电容充电完毕后,微处理器控制继电器而对待测电容进行放电,按一定时间间隔提取待测电容的电压,该提取的待测电容的电压数据存储在微处理器内,计算出待测电容的容量,存储在微处理器内,并显示出测量结果;所述充放电电路具体包括:连接待测电容输入端的继电器,与该继电器并联的显示二极管,所述继电器、并联二极管的输出端均连接同一个三极管的集电极,该三极管的发射极接地、基极通过电阻R3连接5V电压输入端;所述继电器还连接电阻R2、取样电阻R1,该取样电阻R1串联稳压电源、控制开关S,该控制开关S的输出端、取样电阻R1的输出端、电阻R2的输出端均连接待测电容的输出端。
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