[发明专利]消除静电的测试装置在审
| 申请号： | 201510046124.8 | 申请日： | 2015-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN104678286A | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 柯明道;庄哲豪 | 申请（专利权）人： | 晶焱科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H05F3/02 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种消除静电的测试装置，包含一消除集成电路(IC)与一测试器。消除集成电路包括多个第一接脚、一第二接脚与一第三接脚。多个第一接脚分别连接至少一测试集成电路的多个第四接脚，且测试集成电路的一表面上有静电电荷，第三接脚连接接地端，测试器的多个探针分别接触多个第四接脚。在第二接脚接收开启信号时，消除集成电路利用开启信号形成介于测试集成电路与接地端的导通路径，并经由第一接脚与第三接脚释放静电电荷至接地端。在第二接脚接收关闭信号时，消除集成电路利用关闭信号以切断导通路径，且测试器测试集成电路。 | ||
| 搜索关键词： | 消除 静电 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种消除静电的测试装置，其特征在于，包含：一消除集成电路，其包括多个第一接脚、一第二接脚与一第三接脚，该多个第一接脚分别连接至少一测试集成电路的多个第四接脚，且该测试集成电路的一表面上有静电电荷，该第三接脚连接接地端，该第二接脚依序接收一开启信号与一关闭信号，在该第二接脚接收该开启信号时，该消除集成电路利用该开启信号形成介于该测试集成电路与该接地端的导通路径，并经由该多个第一接脚与该第三接脚释放该静电电荷至该接地端；以及一测试器，包括多个探针，该多个探针分别接触该多个第四接脚，在该第二接脚接收该关闭信号时，该消除集成电路利用该关闭信号以切断该导通路径，且该测试器测试该测试集成电路。
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