[发明专利]用于磁位置测量系统的射线可透过的发射器在审
申请号: | 201510053382.9 | 申请日: | 2015-02-02 |
公开(公告)号: | CN105167787A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 韦斯特利·S·阿舍 | 申请(专利权)人: | 阿森松技术公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B19/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 杜诚;陈炜 |
地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供了用于磁位置测量系统的射线可透过的发射器。其中,用于在磁位置测量系统中使用的设备包括发射器。发射器包括具有低X射线横截面的场生成元件。场生成元件包括布置在片材或板材中的至少一个导电螺旋体。该至少一个螺旋体是平面的。发射器还包括围绕场生成元件的非场生成区域。 | ||
搜索关键词: | 用于 位置 测量 系统 射线 透过 发射器 | ||
【主权项】:
一种在磁位置测量系统中使用的设备,所述设备包括:发射器,所述发射器包括:场生成元件,所述场生成元件具有低X射线横截面,其中,所述场生成元件包括布置在片材或板材中的至少一个导电螺旋体,并且其中,所述至少一个螺旋体是平面的;以及非场生成区域,所述非场生成区域围绕所述场生成元件。
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