[发明专利]一种电池老化测试仪及电池老化测试方法有效

专利信息
申请号: 201510057772.3 申请日: 2015-02-04
公开(公告)号: CN104614682B 公开(公告)日: 2018-09-25
发明(设计)人: 林怀;黄少斌;陈先樑;陈雄文 申请(专利权)人: 福建实达电脑设备有限公司
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 代理人: 林志峥
地址: 350002*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种电池老化测试仪及测试方法,该测试仪包括由单独适配器独立供电的CPU以及与该CPU连接的LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路;所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电,且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。本发明能实现一块主板可以带动12块电池同时进行老化,并且12个均属于独立运行,相互之间并不影响任何操作,大大提高生产效率。
搜索关键词: 一种 电池 老化 测试仪 测试 方法
【主权项】:
1.一种电池老化测试仪,其特征在于:包括CPU、LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的可同时工作的12路充放电电路,所述CPU由单独适配器独立供电,所述LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及12路充放电电路分别与所述CPU连接;所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电,且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电;所述充放电电路的充电电路包括一MP2615芯片,所述MP2615芯片的EN端与所述的CPU连接,所述MP2615芯片的SW输出端依次连接电感L1,经电阻R1后分别与所述充放电电路的放电电路的输入端和待测电池的正极连接;BST输入端接收SW输出端依次经电阻R15、电容C5的信号,进行调节输出波形;CSP和BATT端分别连接电阻R1两端,检测电池电压;所述的放电电路包括一MOS管和一三极管,所述的MOS管的栅极经电阻R10分别与源极和所述放电电路的输入端连接;所述的三极管的集电极与所述栅极连接;所述三极管的发射极接地,基极分别与电阻R11的一端、电阻R12的一端连接;所述电阻R11的另一端分别与电容C10一端以及所述CPU连接;所述电阻R12的另一端、电容C10的另一端均接地;所述MOS管的漏极与一二极管D6的负极连接并作为放电端;所述二极管D6的正极接地;所述的充放电电路作为副板独立于所述CPU设置;所述待测电池是放置于所述副板的电池盒内;所述电池盒包括设置于一副板上的电池放置槽,所述电池放置槽的一内壁设置有电极触头,所述电池放置槽的下侧壁上设置有电池弹性固定件,所述副板上且位于电池放置槽上方的区域设置有指示灯以及引线插槽;所述弹性固定件包括一固定杆,所述固定杆内设置有复位弹性杆;所述的电池放置槽底部开设有散热通孔。
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