[发明专利]触控面板的触摸位置探测方法、触控面板检测方法及触控面板检测装置在审
| 申请号： | 201510059691.7 | 申请日： | 2015-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN104850255A | 公开（公告）日： | 2015-08-19 |
| 发明（设计）人： | 楠田达文;本田睦博;栗原靖人 | 申请（专利权）人： | 日本电产理德股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 日本国京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供可以提高触摸位置的探测精密度的触控面板的触摸位置探测方法、触控面板检测方法及触控面板检测装置。所述触控面板的触摸位置探测方法，包含：探测处理工序，获取在触控面板的各感应区域探测到的静电容量值；校正工序，基于相关值，校正各静电容量值，从而计算各相关校正值；最大值搜寻工序，在各相关校正值中搜寻最大值；以及触摸位置获取工序，将对应于最大值的感应区域作为最大区域，对包含该最大区域和相邻该最大区域之其它感应区域的区域，计算基于相关校正值的重心位置，将所述算出的重心位置作为触摸位置而获取。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 触摸 位置 探测 方法 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种触控面板的触摸位置探测方法，所述触控面板是在设定有二维坐标的触摸面上以网格形状配置有复数个感应区域，其中，所述方法包含：探测处理工序，获取在所述各感应区域探测到的探测值；校正工序，基于相关值，校正所述各探测值，从而计算与所述各感应区域对应的相关校正值，其中所述相关值是将相邻于所述各感应区域的其它感应区域的探测值对所述各感应区域的探测值所产生的影响数值化的值；最大值搜寻工序，在所述各相关校正值中搜寻最大值；以及触摸位置获取工序，将对应于所述最大值的感应区域作为最大区域，对包含所述最大区域和相邻所述最大区域之其它感应区域的区域，计算基于所述相关校正值的重心位置，将所述算出的重心位置作为触摸位置而获取。
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