[发明专利]基表测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201510063522.0 | 申请日： | 2015-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN104677312B | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | 马占林 | 申请（专利权）人： | 华立科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310023 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基表测试装置及其测试方法，其中装置包括激光发生器、透明板以及被测基表，所述被测基表倒置于所述透明板上；所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面；在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。本发明的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种基表测试装置，其特征在于，包括激光发生器、透明板以及被测基表，其中所述被测基表倒置于所述透明板上；所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面；在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器；两个所述通孔内的反射镜面均为45°反射镜面，且对立设置；所述激光发生器的工作面为圆形，且与所述通孔的入口端同心设置。
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