[发明专利]一种基于数量置信度的设备缺陷率检测方法

摘要

本发明提供了一种基于数量置信度的设备缺陷率检测方法，包括以下步骤：1)计算设备个体缺陷率集合；2)进行正态分布检验；3)计算各设备数量的置信度；4)以设备数量置信度为权重进行缺陷率检测。本发明考虑了研究对象的个体缺陷率实际分布情况，据此计算出不同设备数量对应的置信度，将之作为权重来平衡各设备批次缺陷率对总体缺陷率的影响，提升了最终运算结果的准确度与客观性，有利于掌握设备内在规律，提炼业务模式，辅助管理决策。

主权项

一种基于数量置信度的设备缺陷率检测方法，其特征是包括以下步骤：步骤S1，计算设备个体缺陷率集合以单台设备的缺陷率为一个样本，计算单台设备的缺陷率，公式如下：其中，缺陷事件数量是指设备在整个观察周期出现的缺陷事件数；观察年数是指设备参与缺陷观测记录的年数，观察年数的计算公式为：观察年数＝观察结束年‑观察开始年+1通过上述计算公式，得到与设备D_i对应的缺陷率α_i，形成该研究对象的设备个体缺陷率集合I＝{α_i|i＝1,2,3…..n}，其中n为设备的序号；此外，计算该集合的均值、方差和标准差三个描述性统计量；步骤S2，进行正态分布检验通过公式法或图像法进行正态分布检验：(1)公式法采用Kolmogorov‑Smirnova算法以及Shapiro‑Wilk算法进行正态分布检验，观察其假设检验的显著性水平；若显著性水平在0.05以下，认为研究对象服从正态分布；(2)图像法采用Q‑Q图来观察研究样本是否服从正态分布；若样本数据与所述直线对应点集合的方差分析通过置信水平为0.95的双侧检验，认为研究对象服从正态分布；步骤S3，计算各设备数量的置信度验证研究样本服从正态分布之后，参考该设备个体缺陷率集合的均值与方差，确定误差接受范围d；通过以下公式求得置信度与设备数量的对应关系：$Z_{a/2}=\sqrt{n}*d/\mathrm{\δ}$其中，d为误差接受范围，δ为样本标准差，n为设备台数；再通过查询正态分布表或EXCEL标准正态分布函数NORM.S.DIST(Z_a/2,TRUE)，得到Z_a/2对应的双侧置信度a，进而求得单侧置信度b：b＝(a‑0.5)*2*100％b即为设备数量n对应的置信度；步骤S4，以设备数量置信度为权重进行缺陷率检测将相应台数设备的置信度作为权重，对设备厂家各批次的缺陷率进行加权平均，具体包括以下子步骤：S4‑1、分别计算某一生产厂家各批次的缺陷率DI_i；S4‑2、利用该生产厂家各批次的设备数量计算相应的置信度，根据置信度的计算结果，计算该生产厂家的缺陷率，其计算公式如下：$\mathrm{DI}=\frac{{\mathrm{\Σ}}_1^n({\mathrm{DI}}_i\·{\mathrm{\α}}_i)}{{\mathrm{\Σ}}_1^n{\mathrm{\α}}_i};$其中，DI表示该生产厂家的总体缺陷率，DI_i为该生产厂家批次i的缺陷率；其批次对应的置信度为α_i，对其进行加权平均得出该生产厂家的总体缺陷率检测结果。