[发明专利]阵列基板制造方法、阵列基板和显示装置有效
申请号: | 201510076792.5 | 申请日: | 2015-02-12 |
公开(公告)号: | CN104795400B | 公开(公告)日: | 2018-10-30 |
发明(设计)人: | 邹志翔;杨成绍;黄寅虎 | 申请(专利权)人: | 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 鞠永善 |
地址: | 230011 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明是关于一种阵列基板制造方法、阵列基板和显示装置,属于显示设备领域。所述方法包括:在基板上形成厚度为d的金属图案;在形成金属图案的基板上形成绝缘膜层,绝缘膜层与金属图案存在交叠区域,绝缘膜层的交叠区域与绝缘膜层的其它区域的高度差的绝对值小于d;在形成绝缘膜层的基板上形成半导体层以及源漏金属层图案。本发明通过使绝缘膜层的交叠区域与绝缘膜层的其它区域的高度差的绝对值小于d,继而在形成绝缘膜层的基板上形成的其他图案的起伏相应减小,达到了能够减小绝缘膜层上形成的走线的断线率,提高产品良率的效果。 | ||
搜索关键词: | 阵列 制造 方法 显示装置 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板制造方法,其特征在于,所述方法包括:在基板上形成厚度为d的金属图案;在形成所述金属图案的基板上形成绝缘膜层,所述绝缘膜层与所述金属图案存在交叠区域,所述绝缘膜层的交叠区域与所述绝缘膜层的其它区域的高度差的绝对值小于所述d;在形成所述绝缘膜层的基板上形成半导体层以及源漏金属层图案;所述在形成所述金属图案的基板上形成绝缘膜层,包括:在形成所述金属图案的基板上形成有机膜层,所述有机膜层与所述金属图案存在交叠区域,所述有机膜层的交叠区域在所述有机膜层上凸起;对所述有机膜层的交叠区域进行减厚处理,使处理后的所述有机膜层的交叠区域与所述有机膜层的其它区域的高度差的绝对值小于所述d,且处理后的所述有机膜层的交叠区域存在所述有机膜层;在形成所述有机膜层的基板上形成所述绝缘膜层;或,所述绝缘膜层采用有机膜层材料形成,在形成所述金属图案的基板上形成有机膜层,所述有机膜层与所述金属图案存在交叠区域,所述有机膜层的交叠区域在所述有机膜层上凸起;对所述有机膜层的交叠区域进行减厚处理,使处理后的所述有机膜层的交叠区域与所述有机膜层的其它区域的高度差的绝对值小于所述d,且处理后的所述有机膜层的交叠区域存在所述有机膜层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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