[发明专利]超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201510079310.1 申请日: 2015-02-13
公开(公告)号: CN104697647B 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 欧阳小平;朱宝强;朱健强 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 张泽纯,张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置,包括第一耦合镜、第二耦合镜、分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、互相关晶体、二倍频晶体、第四反射镜、第五反射镜、衍射元件、光电探测器和计算机;采用了互相关方法来实现超短脉冲的前沿和后沿的高分辨率测量,得到其时间波形和脉冲宽度;还采用了与时间轴正交的衍射元件实现超短脉冲的光谱测量,得到其光谱宽度,从而能够基于脉冲宽度和光谱宽度,得到被测脉冲的啁啾率,非常方便地满足物理实验对于时间波形的测量需求,以及超短脉冲激光系统对啁啾率的测量需求。
搜索关键词: 超短 脉冲 时间 波形 啁啾 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置,其特征在于,包括第一耦合镜(1)、第二耦合镜(2)、分光镜(3)、第一反射镜(4)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)、互相关晶体(7)、二倍频晶体(8)、第四反射镜(9)、第五反射镜(11)、衍射元件(12)、光电探测器(14)和计算机(15);上述各部件的位置关系如下:沿被测超短脉冲方向依次是所述的第一耦合镜(1)、第二耦合镜(2)和分光镜(3),该分光镜(3)将所述的被测超短脉冲分为反射脉冲和透射脉冲,在所述的反射脉冲方向依次是所述的第一反射镜(4)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)和互相关晶体(7),在所述的透射脉冲方向依次是所述的二倍频晶体(8)、第四反射镜(9)和互相关晶体(7),在所述的互相关晶体(7)产生的互相关信号(10)方向依次是所述的第五反射镜(11)、衍射元件(12)和光电探测器(14),该光电探测器(14)的输出端与所述的计算机(15)的输入端相连。
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