[发明专利]面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法在审
| 申请号： | 201510079568.1 | 申请日： | 2015-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN104598699A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 徐东超;绳伟光;何卫锋;毛志刚 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法，包括：对测试电路进行SystemC建模；验证SystemC仿真模型的功能正确性；选取仿真模型故障注入点；在SystemC仿真模型运行过程中，对所选取的故障注入点进行随机的信号位翻转，以模拟软错误故障，实现故障注入；结合测试电路SystemC仿真模型、故障注入点的选取以及故障注入实现，构建仿真故障测试平台；基于仿真故障测试平台进行统计实验；将面积因子引入软错误敏感度指标，计算获得电路的软错误敏感度，本发明实现了电路软错误敏感度分析，具有更高的评估精度。 | ||
| 搜索关键词： | 面向 systemc 电路 模型 错误 敏感度 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法，包括如下步骤：步骤一，对测试电路进行SystemC建模；步骤二，验证SystemC仿真模型的功能正确性；步骤三，选取仿真模型故障注入点；步骤四，在SystemC仿真模型运行过程中，对所选取的故障注入点进行随机的信号位翻转，以模拟软错误故障，实现故障注入；步骤五，结合测试电路SystemC仿真模型、故障注入点的选取以及故障注入实现，构建仿真故障测试平台；步骤六，基于仿真故障测试平台进行统计实验；步骤七，将面积因子引入软错误敏感度指标，计算获得电路的软错误敏感度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学;，未经上海交通大学;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510079568.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：测试报告生成方法及系统
- 下一篇：一种确定薄壁结构高刚度连接区载荷传递的方法
