[发明专利]半导体装置及用于驱动半导体装置的方法在审

专利信息
申请号: 201510081061.X 申请日: 2010-10-20
公开(公告)号: CN104681079A 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 山崎舜平;小山润;加藤清 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: G11C11/405 分类号: G11C11/405;G11C11/56;H01L21/822;H01L27/06;H01L27/105;H01L27/115;H01L27/12
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及半导体装置及用于驱动半导体装置的方法。所公开的是用作多值化存储器设备的半导体器件,包括:串联连接的存储单元;选择存储单元并驱动第二信号线和字线的驱动器电路;选择写入电位中的任意并将其输出至第一信号线的驱动器电路;比较位线的电位和参考电位的读取电路;以及产生写入电位和参考电位的电位产生电路。一个存储单元包括:连接至位线和源线的第一晶体管;连接至第一和第二信号线的第二晶体管;以及连接至字线、位线、以及源线的第三晶体管。第二晶体管包括氧化物半导体层。第一晶体管的栅电极连接至第二晶体管的源和漏电极中的一个。
搜索关键词: 半导体 装置 用于 驱动 方法
【主权项】:
一种半导体装置,包括:第一线;第二线;第三线;在所述第一线和所述第二线之间串联连接的第一存储器单元和第二存储器单元;第一电路,被配置为选择并输出多个写入电位中的任意至所述第三线;以及第二电路,被配置为将所述第二线的电位与多个参考电位作比较以读出数据,其中,所述第一存储器单元和所述第二存储器单元中的每一个都包括:包含第一栅极、第一源极和第一漏极的第一晶体管;包含第二栅极、第二源极和第二漏极的第二晶体管;以及包含第三栅极、第三源极和第三漏极的第三晶体管,其中,所述第二晶体管包含包括氧化物半导体的沟道形成区,且其中,所述第一栅极与所述第二源极和所述第二漏极中的一个彼此电连接,其中,所述第一线、所述第一源极和所述第三源极彼此电连接,其中,所述第二线、所述第一漏极和所述第三漏极彼此电连接,且其中,所述第三线与所述第二源极和所述第二漏极中的另一个彼此电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所;,未经株式会社半导体能源研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510081061.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top