[发明专利]质谱仪一级真空结构有效
| 申请号： | 201510084542.6 | 申请日： | 2015-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN104637773B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;张轶鸣;谢文沛;潘翔;章凯;周立 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/02 | 分类号： | H01J49/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种质谱仪一级真空结构，包括内有进样腔室的进样锥、安装在进样锥后侧且前端伸入进样腔室并内有聚焦腔室的聚焦环、安装在聚焦环后侧且前端伸入所述聚焦腔室并内有截取腔室的截取锥以及支撑部件，进样腔室与聚焦腔室以及截取腔室依次连通且进样锥安装在支撑部件前端，聚焦环和截取锥安装在支撑部件内部，支撑部件的周边具有对称设置且连通内部腔室的排气出口；本发明设计四周对称的排出口，并且使排出口的设计尽可能的靠近截取锥的后侧，同时进一步在聚焦环的后侧设计与排气口相通的通道，不仅使得流体流动稳定，并进一步延长了有效离子的运动路程，如此可以保存更多的被测样品，进一步提高测试结果的灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 质谱仪 一级 真空 结构 | ||
【主权项】：
一种质谱仪一级真空结构，其特征在于，包括：内有进样腔室的进样锥、安装在所述进样锥后侧且前端伸入所述进样腔室并内有聚焦腔室的聚焦环、安装在所述聚焦环后侧且前端伸入所述聚焦腔室并内有截取腔室的截取锥以及支撑部件，所述进样腔室与所述聚焦腔室以及所述截取腔室依次连通且所述进样锥安装在所述支撑部件前端，所述聚焦环和所述截取锥安装在所述支撑部件内部，所述支撑部件的周边具有对称设置且连通内部腔室的排气出口。
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