[发明专利]AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法有效
申请号: | 201510088684.X | 申请日: | 2015-02-26 |
公开(公告)号: | CN104616612B | 公开(公告)日: | 2018-05-25 |
发明(设计)人: | 曲平原;贺珍发 | 申请(专利权)人: | 上海和辉光电有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/3225 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 姜怡;阚梓瑄 |
地址: | 201500 上海市金山区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法。所述测试组件包括:至少一个奇数开关,分别与所述多条数据线中的奇数数据线电性连接;至少一个偶数开关,分别与所述多条数据线中的偶数数据线电性连接;第一开关线路,与所述至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号;第二开关线路,与所述至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号;以及至少一条信号源线路,用于分别接收来自信号源的信号;其中所述至少一个奇数开关和所述至少一个偶数开关中的每一个与所述至少一条信号源线路的其中之一电性连接,以向相应的数据线传送所述信号。 | ||
搜索关键词: | 电性连接 偶数开关 奇数开关 测试组件 数据线 信号源线路 传送控制 控制信号 缺陷测试 导通 偶数数据线 奇数数据线 第一开关 开关线路 信号源 传送 | ||
【主权项】:
1.一种用于AMOLED显示器的基于电荷感应测试的测试组件,所述AMOLED显示器具有显示区和外围非显示区,所述显示区包括多条数据线,所述测试组件位于所述外围非显示区,其特征在于,所述测试组件包括:至少一个奇数开关,分别与所述多条数据线中的奇数数据线电性连接;至少一个偶数开关,分别与所述多条数据线中的偶数数据线电性连接;第一开关线路,与所述至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号;第二开关线路,与所述至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号;以及至少一条信号源线路,用于分别接收来自信号源的信号;其中所述至少一个奇数开关和所述至少一个偶数开关中的每一个与所述至少一条信号源线路的其中之一电性连接,以向相应的数据线传送所述信号;以及对所述多条数据线中的某一条欲进行测试的数据线的相邻数据线施加预定信号而通过该欲进行测试的数据线读取电容值来获得测试结果,其中所述预定信号的信号电压不同于该欲进行测试的数据线上的信号电压。
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