[发明专利]封装半导体芯片的方法及具有倾斜表面的半导体封装体有效
申请号: | 201510091860.5 | 申请日: | 2015-02-28 |
公开(公告)号: | CN104882418B | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | K·埃利安;H·托伊斯 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L21/48 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;董典红 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及封装半导体芯片的方法及具有倾斜表面的半导体封装体。在一个方面中,一种封装半导体模块的方法包括提供半导体模块,该半导体模块具有第一表面、与第一表面相对的第二表面和在第一表面和第二表面之间延伸的边侧。至少部分地通过3D印制工艺形成封装组件。该封装组件包括半导体模块和在第一表面上方延伸的保护罩。 | ||
搜索关键词: | 封装 半导体 芯片 方法 具有 倾斜 表面 | ||
【主权项】:
1.一种封装半导体模块的方法,所述方法包括:提供半导体模块,所述半导体模块包括第一表面、与所述第一表面相对的第二表面和在所述第一表面与所述第二表面之间延伸的边侧;以及至少部分地通过3D印制工艺形成封装组件,所述封装组件包括所述半导体模块和在所述第一表面上方延伸的保护罩,其中形成封装组件包括通过所述3D印制工艺直接在所述半导体模块的所述第一表面上形成所述保护罩,以及其中所述保护罩包括两个表面,所述两个表面成角度彼此邻接并且远离所述第一表面而延伸以形成相对于所述第一表面的逆行形状。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技股份有限公司,未经英飞凌科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510091860.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件
- 下一篇:基于DBC基板的子单元耐压检测系统及方法