[发明专利]一种近晶相液晶屏的电量检测方法

摘要

本发明公开了一种近晶相液晶屏的电量检测方法，包括：初始化时，对施加在行或列上的具有m个脉冲的低频高压脉冲，去除最前面a个脉冲和最后面b个脉冲，对余下各脉冲进行p次平均采样并求取采样平均值，在得到的(m‑a‑b)个采样平均值中取最小值作为初始化阶段的电量信息；扫描驱动时，对施加在行上的具有n个脉冲的高频高压脉冲，去除最前面c个脉冲和最后面d个脉冲，对余下各脉冲进行1次采样，对得到的(n‑c‑d)个采样值取平均值作为行采样值，以在对扫描驱动各行所得所有行采样值中取最小值作为扫描驱动阶段的电量信息。本发明可检测到近晶相液晶屏刷屏时的电量信息，以备在低电量前做好预防措施，防止驱动脉冲波形畸变导致显示异常。

主权项

1.一种近晶相液晶屏的电量检测方法，其特征在于，它包括如下步骤：1)在初始化近晶相液晶屏时，对于施加在行或列上的具有m个脉冲的低频高压脉冲，去除最前面的a个脉冲和最后面的b个脉冲，对余下位于中间的(m‑a‑b)个脉冲中的每个脉冲的电压值进行平均采样p次并对p次采样值求得采样平均值，从而在得到的(m‑a‑b)个采样平均值中取最小值作为初始化阶段的电量信息；2)在扫描驱动近晶相液晶屏时，对于施加在行上的具有n个脉冲的高频高压脉冲，去除最前面的c个脉冲和最后面的d个脉冲，对余下位于中间的(n‑c‑d)个脉冲中的每个脉冲的电压值进行1次采样，得到(n‑c‑d)个采样值并对(n‑c‑d)个采样值求取平均值来作为行采样值，从而在对扫描驱动近晶相液晶屏各行所得到的所有行采样值中取最小值作为扫描驱动阶段的电量信息。