[发明专利]基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法有效
| 申请号： | 201510098070.X | 申请日： | 2015-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN104634765B | 公开（公告）日： | 2017-06-23 |
| 发明（设计）人： | 姜志富;李满良;左亚林;吴亚丽;马峰;孟凡胜;杜芳;麻纪庵;王琳;郭毅 | 申请（专利权）人： | 姜志富 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 潘俊林 |
| 地址： | 732750 甘肃省酒泉*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法，其中装置包括全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中；遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射全漫反射元件的太阳光；光学辐射测量仪，用于测量全漫反射元件，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算第一响应数据和第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。本发明的目的在于准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光学 辐射 测量仪 测量 大气 透过 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置，其特征在于，包括全漫反射元件、光学辐射测量仪，遮光元件和计算单元：所述全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至所述光学辐射测量仪中；所述遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光；所述光学辐射测量仪，用于测量所述全漫反射元件反射的光线，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。
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