[发明专利]一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法

摘要

本发明是一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法，该方法首先在水浸超声C扫描检测系统上建立基准位置并标定该基准位置在超声探头声束扫描位置坐标系中的坐标，然后通过被检材料上加工的定位基准面将被检材料安放于检测系统中的基准位置处并进行超声C扫描检测，接着利用检测系统的缺陷回找功能确定C扫描图像上各缺陷在超声探头声束扫描位置坐标系中的精确坐标，并将该坐标与检测系统中基准位置的坐标相减以求得缺陷相对于被检材料上定位基准面的精确坐标，最后，将缺陷相对于被检材料上定位基准面的坐标与从超声探伤单元上读取的缺陷相对于被检材料超声探测面的埋深相组合，构成缺陷在被检材料中的三维空间位置坐标。

主权项

一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法，其特征在于，该方法的步骤是：步骤一、在一个能够水平旋转的托盘(1)的水平工作面上固定放置一个长方体形规块(2)，在长方体形规块(2)长度方向的一侧固定放置一个限位块(3)，在托盘(1)的水平工作面上再放置一块用于确定检测基准的方形规块(4)，方形规块(4)相邻侧面之间互相垂直，将方形规块(4)的两个相邻侧面中的一个侧面与长方体形规块(2)长度方向的侧面贴合，另一个侧面与限位块(3)靠紧，然后整体放入水浸超声C扫描检测系统的水槽中；步骤二、旋转托盘(1)，使托盘(1)水平工作面上的长方体形规块(2)的长度方向与水浸超声C扫描检测系统的水平直线平移轴X平行，然后用水浸超声C扫描检测系统的探头(5)的声束(6)对方形规块(4)的上表面进行水平扫描，探头(5)的声束(6)与方形规块(4)的上表面垂直，扫描方向为以下两个：第一个扫描方向：当探头(5)的声束(6)的中心触及并位于方形规块(4)与长方体形规块(2)相贴合的侧面的边缘时，探头(5)的声束(6)的回波高度下降一半，将探头(5)的声束(6)在该位置处的Y坐标值定义为基准Y0；第二个扫描方向：当探头(5)的声束(6)的中心触及并位于方形规块(4)与限位块(3)靠紧的侧面的边缘时，探头(5)的声束(6)的回波高度下降一半，将探头(5)的声束(6)在该位置处的X坐标值定义为基准X0；步骤三、在被检材料(7)的水平超声探测面(8)的侧面加工两个互相垂直的竖直面(9)，将被检材料(7)放置于托盘(1)的水平工作面上，其中一个竖直面(9)与长方体形规块(2)长度方向的侧面贴合，另一个竖直面(9)与限位块(3)靠紧；步骤四、用探头(5)的声束(6)对被检材料(7)的水平超声探测面(8)进行水平扫描，得到扫描位置信息与超声检测信号相对应的二维平面C扫描图像，确定图像中的缺陷信号位置，利用水浸超声C扫描检测系统的缺陷回找功能将探头(5)的声束(6)定位至水平超声探测面(8)上方与缺陷信号相对应的位置处，记录探头(5)的声束(6)在该位置处的X、Y坐标值X’、Y’，将该坐标值与基准X0、Y0相减，取差值ΔX、ΔY分别作为缺陷信号位置相对被检材料(7)上两个竖直面(9)的距离，进一步从超声探伤单元读取缺陷相对超声探测面(8)的埋深，将该埋深与ΔX、ΔY相组合构成缺陷在被检材料中的三维空间位置坐标。